使用針床來做電路測試會有一些機構上的先天上限制，比如說：
1、探針的最小直徑有一定極限，太小直徑的針容易折斷毀損。
2、某些高零件的旁邊無法植針。如果探針距離高零件太近就會有碰撞高零件造成損傷的風險，另外因為零件較高，通常還要在測試治具針床座上開孔避開，也間接造成無法植針。
3、針間距離也有一定限制，因為每一根針都要從一個孔出來，而且每根針的后端都還要再焊接一條排線，如果相鄰的孔太小，除了針與針之間會有接觸短路的問題，排線的干涉也是一大問題。
4、電路板上越來越難容納得下所有零件的測試點。由于板子越來越小，測試點多寡的存廢屢屢被拿出來討論，現在已經有了一些減少測試點的方法出現，如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG…等;也有其它的測試方法想要取代原本的針床測試，如AOI、X-Ray，但目前每個測試似乎都還無法100%取代ICT。
標簽：pcb板插件配件
